[发明专利]一种磁流变抛光工件位姿测算方法及抛光方法有效
| 申请号： | 202111151173.X | 申请日： | 2021-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN113814870B | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 周涛;张云飞;曾靖超;郑永成;黄文;张建飞;陈立;李凯隆 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 |
| 主分类号： | B24B29/00 | 分类号： | B24B29/00;B24B1/00;B24B49/00;B24B49/12 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 史丽红 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁流变抛光工件位姿测算方法及抛光方法，位姿测算方法包括以下步骤：构建工件的几何位姿测量模型；根据几何位姿测量模型测量工件的中心点的位置；以中心点的位置为原点，建立工件的理论坐标系；构建工件在理论坐标系中位置的几何位姿理论模型；根据几何位姿理论模型和CCOS技术对工件进行轨迹规划；根据坐标变换矩阵对规划的轨迹点进行修正，得到工件的实际加工轨迹。本发明的目的在于提供一种磁流变抛光工件位姿测算方法及抛光方法，利用集成于机床数控系统的三坐标测头对工件的中心及抛光面上的点进行测量，完成工件位姿数据的获取，解决工件精确调平过程中精度受人工经验影响的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 流变 抛光 工件 测算 方法 | ||
【主权项】：
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