[发明专利]高通量薄膜沉积设备及薄膜沉积方法有效

专利信息
申请号: 202111137580.5 申请日: 2021-09-27
公开(公告)号: CN113862625B 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 李卫民;吴挺俊;陈玲丽;朱雷;俞文杰 申请(专利权)人: 上海集成电路材料研究院有限公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C23C14/50
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 卢炳琼
地址: 201800 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种高通量薄膜沉积设备及薄膜沉积方法。设备包括腔体、载台、靶枪、第一气体供给系统及第二气体供给系统;腔体包括相互连通的溅射部和沉积部,溅射部位于沉积部的上方,溅射部的水平表面积小于沉积部的水平表面积;靶枪位于溅射部内,靶枪上设置有靶材;载台用于承载待沉积的衬底,衬底上具有待沉积区,沉积过程中,待沉积区位于靶枪的正下方;第一气体供给系统包括第一气体管路和第一气体喷淋头,第一气体喷淋头为复数个;第二气体供给系统包括第二气体管路,一端与第二气体源相连通,另一端延伸到沉积部内,以向沉积部供应第二气体,第二气体包括反应气体和/或保护气体。本发明有助于提高沉积效率和良率。
搜索关键词: 通量 薄膜 沉积 设备 方法
【主权项】:
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