[发明专利]液晶光栅衍射效率的测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 202111118341.5 | 申请日： | 2021-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN113567092A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 黄小龙;李光源;杜聚有;林正华;米尔纳;徐峰 | 申请（专利权）人： | 上海钜成锐讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人： | 王宏婧 |
| 地址： | 200124 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种液晶光栅衍射效率的测量装置，包括光源、分光单元、液晶光栅、TEC模块、第一图像采集单元和第二图像采集单元和控制单元；所述光源输出的光通过所述分光单元分为第一光束和第二光束，所述第一光束到达所述第一图像采集单元，所述第二光束通过所述液晶光栅衍射后到达所述第二图像采集单元，所述第一图像采集单元和所述第二图像采集单元采集图像后传输至所述控制单元，所述控制单元控制所述液晶光栅改变参数以及所述控制单元根据所述第二图像采集单元采集的图像控制所述第二图像采集单元移动；所述TEC模块与所述液晶光栅和所述控制单元连接，所述控制单元根据所述液晶光栅的实时温度控制所述TEC模块调节所述液晶光栅的温度。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 光栅 衍射 效率 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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