[发明专利]一种碳化硅外延晶片生长用样品托上的复合涂层制备方法有效
| 申请号: | 202111107336.4 | 申请日: | 2021-09-22 |
| 公开(公告)号: | CN113862781B | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
| 发明(设计)人: | 丁雄傑;韩景瑞;杨旭腾;种涞源;李锡光 | 申请(专利权)人: | 东莞市天域半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | C23C16/32 | 分类号: | C23C16/32;C23C16/56;C30B25/18;C30B29/36;C30B29/04;C30B28/14 |
| 代理公司: | 广东莞信律师事务所 44332 | 代理人: | 谢树宏 |
| 地址: | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种碳化硅外延晶片生长用样品托上的复合涂层制备方法,包括步骤:S1、采用射频线圈加热型CVD设备,在石墨材质样品托上沉积一层SiC涂层;S2、采用羊毛毡吸附旋转打磨的方式,在SiC涂层上镶嵌金刚石微纳颗粒;S3、在金刚石微纳颗粒上方异质外延一层金刚石多晶薄膜;S4、采用自动磨抛设备,对金刚石多晶膜表面进行研磨抛光;S5、采用步骤S1的相同方法,在金刚石多晶膜的表面沉积一层SiC涂层;S6、重复步骤S2至S5,获得具有多个周期性结构的复合涂层。该方法可以在样品托本体上实现具有高热导率和非均匀散热特性的复合涂层结构,可降低碳化硅外延过程中热应力型BPD位错的形成概率。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 碳化硅 外延 晶片 生长 样品 复合 涂层 制备 方法 | ||
【主权项】:
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的





