[发明专利]一种碳化硅陶瓷基复合材料微区弹性模量的测试方法在审
| 申请号： | 202111057804.1 | 申请日： | 2021-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN115774126A | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 陈小武;董绍明;张翔宇;杨金山;胡建宝;廖春景;秦浩;薛玉冬 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;郑优丽 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种碳化硅陶瓷基复合材料微区弹性模量的测试方法，包括：（1）启动AFM接触式工作模式扫描碳化硅陶瓷基复合材料样品的抛光表面形貌，得到样品高分辨率形貌图像，然后启动AFM力/曲线工作模式对碳化硅陶瓷基复合材料样品进行力/曲线测定；（2）依据碳化硅陶瓷基复合材料样品的微区结构特征和弹性变形机制，建立探针/测试表面数学接触模型，通过Image Analysis软件计算单元对挠度‑位移曲线进行拟合，得到微区结构的弹性变形过程力‑位移曲线；所述微区结构包括纤维、基相体和界面相；（3）根据微区结构的弹性变形过程力‑位移曲线的曲线斜率计算出弹性模量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 碳化硅 陶瓷 复合材料 弹性模量 测试 方法 | ||
【主权项】：
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