[发明专利]一种用于确定钼合金单晶滑移平面的方法在审

专利信息
申请号: 202111047668.8 申请日: 2021-09-08
公开(公告)号: CN113740337A 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 赵永庆;焦奔奇;张文;胡忠武;高选乔;李延超;殷涛;辛甜;郑晗煜;裴雅 申请(专利权)人: 西北有色金属研究院
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N1/28;G01N1/32;G01N23/203;G01N23/20008
代理公司: 西安创知专利事务所 61213 代理人: 马小燕
地址: 710016 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种用于确定钼合金单晶滑移平面的方法,先采用线切割在钼合金单晶棒上切出试样,并在试样的两侧面相交顶点处打磨出一个小平面作为标记平面,确定试样的侧面晶体取向,然后将试样进行变形处理得到变形后试样,对变形后试样中标记平面的相邻两侧面的滑移线进行分析,确定相邻两侧面的滑移线与应力轴之间的夹角,再采用二面法计算得到钼合金单晶的滑移平面。本发明在钼合金的试样变形处理前确定其侧面晶体取向,结合在试样的两侧面相交定点处打磨标记平面以区别两个侧面变形后的滑移线,避免了试样变形造成的测量误差,保证了钼合金单晶变形后滑移平面测定的准确性,操作简单,耗时短,效率高。
搜索关键词: 一种 用于 确定 合金 滑移 平面 方法
【主权项】:
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