[发明专利]一种微环谐振器的插入损耗测试方法有效
| 申请号： | 202111046814.5 | 申请日： | 2021-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN113483997B | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 郭菲;骆弟伟;赵越超;尚创波;肖明珠;张茹;程东 | 申请（专利权）人： | 西安奇芯光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G06F17/16;G06F30/20 |
| 代理公司： | 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 | 代理人： | 韩晓娟 |
| 地址： | 710000 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： |
本发明涉及光器件技术领域，公开了一种微环谐振器的插入损耗测试方法，包括以下步骤：搭建测试系统；通过测试系统测试待测微环谐振器的传输谱线；根据微环谐振器的传输谱线，获得微环谐振器的 |
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| 搜索关键词： | 一种 谐振器 插入损耗 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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