[发明专利]一种集成电路测试分类机的测试设备

摘要

本发明公开了一种集成电路测试分类机的测试设备，其结构包括底板、滑动箱、测试箱、控制盒、底座，底板上端螺柱连接于滑动箱下端，滑动箱右端嵌固连接于测试箱左端，测试箱上端铆合连接于控制盒下端，底座上端螺栓连接于测试箱下端，将设备进行通电，操控测试箱上端的控制盒，使底板上端的滑动箱进行运行，把生产好后的半导体晶片放置在滑动箱进入到测试箱内进行测试，晶片与导板进行接触，晶片推动导角与推条抵住顶柱，顶柱推动弧板上端的固定块，使卡条抵住卡环内侧的抵板进行固定，使半导体晶片逐个进行测试分类，防止晶片堆叠分类不均，导致部分晶片被分类到质量不一致的放置盒内进行处理，造成集成电路半导体晶片进行质量分类效果被降低。