[发明专利]可调节薄膜应力的溅射设备和方法有效

专利信息
申请号: 202110978336.5 申请日: 2021-08-25
公开(公告)号: CN113416938B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 潘钱森;周云;宋维聪 申请(专利权)人: 陛通半导体设备(苏州)有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/54;C23C14/06
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 卢炳琼
地址: 215413 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种可调节薄膜应力的溅射设备和方法。设备包括腔体、磁控溅射装置、挡板、晶圆压环、基座及电磁线圈模块;晶圆压环一端与挡板相邻,另一端延伸到基座边缘的上方;基座与偏压电源相连接;电磁线圈模块位于基座内和/或晶圆压环与基座之间,包括多个电磁线圈组,其中,各电磁线圈组包括N极电磁铁和S极电磁铁,单个电磁线圈组中的N极电磁铁相邻设置于S极电磁铁的左侧,且N极电磁铁的N极磁极面和S极电磁铁的S极磁极面同时朝上或朝下;溅射过程中,将多个电磁线圈组分为多个通电单元,沿顺时针或逆时针方向对多个通电单元依次交替进行通断电,以于基底表面沉积薄膜并调节薄膜应力。本发明有助于提高薄膜厚度和应力分布均匀性。
搜索关键词: 调节 薄膜 应力 溅射 设备 方法
【主权项】:
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