[发明专利]一种智能设备测试方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110932945.7 | 申请日： | 2021-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN113760750A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 林丰 | 申请（专利权）人： | 深圳TCL新技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G01D21/00 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 黄灵飞 |
| 地址： | 518052 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种智能设备测试方法、装置、电子设备和存储介质；本申请实施例可以接收针对主控终端和多个从控终端的测试启动指令；根据测试启动指令，显示测试操作界面；通过测试操作界面，获取至少一个测试操作信息；将至少一个测试操作信息进行信息打包处理，得到测试操作指令；将测试操作指令发送至多个从控终端，以使得多个从控终端根据测试操作指令对多个智能设备进行测试操作，其中，一个智能设备由一个从控终端进行控制,可以降低对智能设备进行自动化测试的工作量，从而提高自动化测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 智能 设备 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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