[发明专利]脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法在审
| 申请号： | 202110898621.6 | 申请日： | 2021-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN113721284A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 谢彦召;吕泽琦;陈晓宇;苟明岳 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01T1/11 | 分类号： | G01T1/11;G01T1/36;G01R19/00;G01R15/18 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 范巍 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法，属于脉冲功率技术测量领域，具有吸收辐射场内的电子和测量辐射场内光子数与电子数之比的功能，包括二极管、真空实验腔、实验腔后端盖板及剂量测量系统和电流测量系统。二极管与真空实验腔连接为一体，实验腔后端盖板密封连接真空实验腔，剂量测量系统测量脉冲X射线的剂量分布；电流测量系统测量辐射场内电子；由剂量和能谱计算得到光子数，电流计算得到电子数，获得光子数与电子数之比。本发明在吸收辐射场中电子的同时对光子影响较小，有效减小了脉冲X射线效应试验中电子的干扰，建立了辐射场内的光子数与电子数之比测量系统，有助于后续试验中对脉冲X射线效应进行更准确的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 脉冲 射线 辐射 场内 光子 电子 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学，未经西安交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110898621.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：去除载板的方法
- 下一篇：一种基于曲率函数的自补偿带隙基准源结构及其应用
