[发明专利]一种测试治具和测试装置有效
| 申请号： | 202110875943.9 | 申请日： | 2021-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN113742146B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 张毅军;梁磊 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 刘小峰;张涛 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试治具，包括：第一连接治具，设置有与待测硬盘接口连接的第一公头连接器以及PCIE信号发送器；延长板，设置有PCIE信号输入端、内部走线和PCIE信号输出端，PCIE信号输入端与PCIE信号发送器连接以接收PCIE信号，PCIE信号经内部走线传输后通过PCIE信号输出端输出；第二连接治具，设置有PCIE信号接收器和母头连接器，PCIE信号接收器与PCIE信号输出端连接以接收PCIE信号，PCIE信号经母头连接器输出，进而对经过延长板延长后的PCIE信号进行测试。本发明还提出一种测试装置。本发明实施例提出的测试治具，通过在背板上的硬盘接口的位置上连接第一连接治具，然后在转接到延长板，并结合第二连接治具设计，测试信号延长后的损耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 装置 | ||
【主权项】：
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