[发明专利]一种评测大功率光纤激光器熔点质量的方法有效

专利信息
申请号: 202110866327.7 申请日: 2021-07-29
公开(公告)号: CN113312805B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 韩凯;娄兆凯;崔文达;许晓军;马鹏飞;奚小明;史尘 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G01M11/02;G06F119/08
代理公司: 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 代理人: 邱轶
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 本申请涉及一种评测大功率光纤激光器熔点质量的方法。所述方法包括:通过根据大功率光纤激光器模型参数建立光纤的熔点温升模型,通过在预先搭建的纤芯温度测量平台中设置不同的泵浦功率,得到多组对应的熔点温度和信号光功率的测量值,求解熔点温升模型,得到关于熔点温度和熔点信号光功率的多组计算数据,根据多组计算数据,以及熔点温度和信号光功率的测量值,通过数据拟合得到致热因子,用于评测光纤的熔点质量。本发明通过致热因子描述熔点温度特性、反映熔点熔接质量,实现了对熔点熔接质量的定量评测,为大功率光纤激光器进一步功率提升时的熔点温度分析和可靠性研判提供了理论和实验手段。
搜索关键词: 一种 评测 大功率 光纤 激光器 熔点 质量 方法
【主权项】:
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