[发明专利]深度学习算法的测试方法、装置、电子装置和存储介质在审
| 申请号： | 202110850333.3 | 申请日： | 2021-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN113672500A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 何为;陈艳支;姚国勤;唐贝贝;吴立 | 申请（专利权）人： | 浙江大华技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 韩潇 |
| 地址： | 310016 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种深度学习算法的测试方法、装置、电子装置和存储介质。其中，该深度学习算法的测试方法包括：获取待测的深度学习算法的测试集，其中，测试集包括多个测试数据，每个测试数据包括测试样本和测试标签；根据各测试标签确定各测试样本对应的标准结果；将各测试样本的测试任务并行下发到部署有待测的深度学习算法的数据计算集群，并获取数据计算集群返回的各测试样本的测试任务的执行结果，其中，执行结果包括待测的深度学习算法对应的测试样本的预测结果；根据各测试样本的标准结果和预测结果，获取待测的深度学习算法的测试结果。通过本申请，解决了相关技术中在深度学习算法的测试过程存在资源利用率低的问题，提高了资源利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 深度 学习 算法 测试 方法 装置 电子 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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