[发明专利]一种弱光场样品Mueller矩阵快速检测方法及检测系统在审
| 申请号： | 202110808520.5 | 申请日： | 2021-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN113538381A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 李艳秋;宁天磊 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/80;G06T5/20;G06T5/00;G06T3/40;G06F17/16;G01N21/21 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种弱光场样品Mueller矩阵快速检测检测方法及检测系统，属于偏振测量技术领域，该检测方法的具体过程为：选取四个不同快轴方向的四分之一波片进行拼接，选取一透光轴为水平方向的偏振片和拼接的多快轴四分之一波片共同组成偏振态产生器；基于所述偏振态产生器，实现在弱光场环境下样品Mueller矩阵的快速检测。该方法测量样品穆勒矩阵不需要任何器件旋转，仅获取探测面单幅强度分布即可解算出待测样品的穆勒矩阵信息，实验装置结构简单稳定、解算方法鲁棒性强可以实现实时偏振信息的获取。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 弱光 样品 mueller 矩阵 快速 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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