[发明专利]一种测量结构位移的标志物及方法有效
| 申请号： | 202110803222.7 | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113506276B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 王晓初;钟隆昇;张胜辉;王义;刘强;钟子佳 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/70;G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 510090 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量结构位移的标志物及方法，所述标志物包括底板和设置在底板表面的标志图形；标志图形包括匹配模板、编码宽度校准单元、至少一个定位单元和至少一个编码区域单元；定位单元用于确定匹配模板和编码区域单元的位置；编码宽度校准单元根据自身占据的像素点个数，确定编码区域单元宽度占据的像素点个数；匹配模板用于对结构位移前后的标志物图像进行匹配；编码区域单元被提取进行像素扫描，获得编码数据，进而确定标志物的唯一编码ID，唯一编码ID中包含结构位移信息和历史数据。本发明提供的标志物对结构位移测量精度高，标志物唯一的编码ID包含结构位移信息和历史数据，可以实现高效率多点位移测量和历史数据分析的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 结构 位移 标志 方法 | ||
【主权项】：
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