[发明专利]存储阵列的缺陷定位方法、装置、设备及可读存储介质有效
| 申请号： | 202110801540.X | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113538376B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 王文琪;王班;陈金星;马霏霏;吴佳琪 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/12;G06T7/181;G06T7/66;G06T7/73;G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京英思普睿知识产权代理有限公司 16018 | 代理人： | 刘莹;聂国斌 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种存储阵列的缺陷定位方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：对存储阵列的检测图像进行灰度处理以获得检测图像中的多个电压衬度的灰度值，其中，电压衬度指示存储阵列对应的检测位置可能存在的缺陷；在灰度处理后的检测图像中识别出多个电压衬度的轮廓；根据识别出的轮廓获取多个检测位置的坐标，以与检测位置建立对应关系；以及根据灰度值和对应关系定位出存储阵列的缺陷。该缺陷定位方法可保证检测图像质量不变的情况下，对庞大的电压衬数据进行自动批处理，运行几秒即可获取缺陷定位结果，避免对数据的多次重复性和手动操作。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 阵列 缺陷 定位 方法 装置 设备 可读 介质 | ||
【主权项】：
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