[发明专利]基于VIPA标准具的电光调制深度实时测控系统及方法有效
| 申请号： | 202110800025.X | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113540950B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 王国超;杨俊;颜树华;朱凌晓;杨明月;王杰;王亚宁;贾爱爱;李期学;张旭;章欢开 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | H01S3/094 | 分类号： | H01S3/094;H01S3/115 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 邱轶 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于VIPA标准具的电光调制深度实时测控系统及方法，该系统包括单频激光器、电光调制器、VIPA色散分光模块、光束分隔器件、探测器阵列和反馈控制模块；所述单频激光器产生的单频线偏振光输入至电光调制器，经电光调制后输出多频率复合光；多频率复合光输入色散分光模块，不同频率的边带光在空间上被分隔成间距为毫米量级的多个光束；间距为毫米量级的多个光束通过光束分隔器件将所需要的几种频率成分的光分离开，同时输入到探测器阵列中；探测器阵列将光强信号转化为电信号，输入至反馈控制模块中，通过反馈控制模块实现对电光调制深度的实时测控；所述色散分光模块包括准直器、柱透镜、虚拟成像相位阵列和聚焦透镜。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 vipa 标准 电光 调制 深度 实时 测控 系统 方法 | ||
【主权项】：
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