[发明专利]基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法有效

专利信息
申请号: 202110796464.8 申请日: 2021-07-14
公开(公告)号: CN113533867B 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 栗曦;王可阳;杨林;郜静逸;杨钰 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 程晓霞;王品华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法,解决了远场测量需求采样间隔小才能准确重构天线远场方向图的问题。根据天线的远场测量条件确定待测天线的远场距离;用本发明的待测天线的远场测量间隔准则确定采样间隔;抽测出天线某个表面上辐射远场的幅度和相位,依次计算和得到待测天线远场的Fourier展开系数、远场方向图函数和待测天线的幅度方向图和相位方向图,实现了远场方向图快速测量。本发明基于带限周期函数的Fourier插值法,快速准确的重构出角度间隔任意小的方向图,提高了测试效率。本发明适用于多通道、多波束、扫频测试中,可大大减少采样点数,显著提高测试效率。
搜索关键词: 基于 fourier 方向 快速 测量方法
【主权项】:
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