[发明专利]基于存储器子系统的存储器裸片的温度监测的异常条件检测在审
| 申请号： | 202110794539.9 | 申请日： | 2021-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN113936704A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 周振明;J·朱 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11B33/14 | 分类号： | G11B33/14 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 彭晓文 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及基于存储器子系统的存储器裸片的温度监测的异常条件检测。收集对应于存储器子系统的一组存储器裸片的一组温度测量值。所述一组温度测量值包含针对所述一组存储器裸片中的每个存储器裸片确定的温度测量值。确定所述一组温度测量值中的第一温度测量值是否满足第一条件。确定所述一组温度测量值的温度变化是否满足第二条件。响应于确定所述第一温度测量值满足所述第一条件或所述温度变化满足所述第二条件，记录温度相关事件。向主机系统发送指示所述温度相关事件的消息。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 存储器 子系统 温度 监测 异常 条件 检测 | ||
【主权项】：
暂无信息
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