[发明专利]一种光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110782342.3 | 申请日： | 2021-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN113237640B | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 张尚露;孟怀宇;沈亦晨 | 申请（专利权）人： | 南京光智元科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 远明 |
| 地址： | 211800 江苏省南京市江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光耦合测试方法、装置、电子设备及存储介质，属于光器件测试技术领域，所述方法包括：获取阵列排布的待测试光器件中的至少一个样本光器件集的目标输出端口对应的位置坐标参数；根据所述位置坐标参数计算所述目标输出端口之间的间距，得到用于测试光纤的移动距离序列；基于所述移动距离序列，驱动所述测试光纤从第一个待测试光器件的首个输出端口开始依序对每个待测试光器件的每个输出端口分别进行光耦合测试。本发明提高了光耦合测试的效率，减少了对测试人员的依赖性，并且提高了测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 耦合 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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