[发明专利]一种基于KL距离的板级电路测点选择方法在审

专利信息
申请号: 202110776895.8 申请日: 2021-07-09
公开(公告)号: CN113533946A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 尚玉玲;韦淞译;苏欣;侯杏娜;叶晓静;李春泉;范海花;姜辉 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: G01R31/3167 分类号: G01R31/3167
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 541004 广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 一种基于KL(Kullback‑Leibler)距离的板级电路测点选择方法,首先对电路仿真测量各个故障类型各个测点某一时间段内时域电压数据并对数据进行核密度估计并保存得到的概率密度函数,引入离散KL距离实现计算出测点集的故障隔离率。利用故障隔离率和测试点数量构造多维适应度函数,故障隔离率越高测点选择数越少的测点集越优,搜索全局最优测试点集。本发明专利无需建立故障字典进行故障隔离度的计算,通过引入核密度估计和离散KL距离将故障隔离计算转换为概率分布情况差异计算,充分利用了时域电压数据,提高测点集隔离率,利用故障隔离率和测试点数量构造人工鱼算法的多维适应度函数实现最优测点集选择,并通过在人工鱼算法中引入繁衍行为改善陷入局部最优解的情况。
搜索关键词: 一种 基于 kl 距离 电路 选择 方法
【主权项】:
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