[发明专利]N极性GaN晶体管结构的制备方法和半导体结构在审

专利信息
申请号: 202110742866.X 申请日: 2021-07-01
公开(公告)号: CN113471284A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 李成果;曾巧玉;尹雪兵;葛晓明;陈志涛 申请(专利权)人: 广东省科学院半导体研究所
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 梁晓婷
地址: 510651 广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明的实施例提供了一种N极性GaN晶体管结构的制备方法和半导体结构,涉及半导体技术领域,通过沉积形成Ga极性的外延功能层,并在外延功能层上键合形成支撑衬底,然后将该外延结构倒置后去除结构衬底和缓冲层,在暴露出的外延功能层远离支撑衬底的一侧制作源极、漏极和栅极,以形成N极性的GaN晶体管结构。其中,N极性GaN晶体管的外延结构由直接生长的Ga极性外延层上下倒置获得,其材料质量相比直接外延生长的N极性材料更高,能够得到高电阻的GaN绝缘层和陡峭界面的异质结,因而可增强N极性GaN晶体管的耐高压能力、减小器件导通损耗,提升器件整体性能。
搜索关键词: 极性 gan 晶体管 结构 制备 方法 半导体
【主权项】:
暂无信息
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