[发明专利]原因推测装置、原因推测系统和程序在审
| 申请号： | 202110727010.5 | 申请日： | 2021-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN114077896A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 樱井祐市;西纳修一;田代和幸 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G06N5/04 | 分类号： | G06N5/04 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明通过确定考虑了传感器信息的可靠度的不良的推测原因和对策，能够向用户提供更有用的信息。本发明的原因推测装置包括：通信部，其获取表示设备或者产品中产生的不良模式的不良模式信息、设备的观测值、以及表示设备的状态的传感器信息；存储部，其存储将不良模式、观测值、表示设备的状态的观测项目、以及规定的推测原因和对策相关联地登记的原因推测信息；和原因推测部，其基于从外部装置获取的信息，从原因推测信息确定规定的推测原因和对策，原因推测部使用规定阈值来确定传感器信息的可靠度，其中规定阈值是基于传感器信息与要处理的处理对象或设备的构成部件的规定要素的关系性而计算出的。 | ||
| 搜索关键词： | 原因 推测 装置 系统 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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