[发明专利]一种光学图像法测量Zeta电位及粒子尺寸的仪器在审
申请号: | 202110714855.0 | 申请日: | 2021-06-26 |
公开(公告)号: | CN114910393A | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 柳钟丽;杨涛 | 申请(专利权)人: | 苏州胤煌精密仪器科技有限公司 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏州市昆*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种光学图像法测量Zeta电位及粒子尺寸的仪器,包括外壳体和可编程控制器,所述外壳体的内部设置有观测流动池,且观测流动池的顶底两部均开设有安装滑槽,所述安装滑槽的内部连接有安装滑块,所述连接环架一侧的底部连接有第一电动推杆,所述外壳体的顶部安装有保护壳,所述安装架的上方连接有调节滑动体,且调节滑动体的外表面连接有调节滑动槽,所述调节滑动体的一侧端面连接有第二电动推杆,所述可编程控制器位于外壳体的内底部。该光学图像法测量Zeta电位及粒子尺寸的仪器通过设置的可编程控制器能够让其对第二电动推杆和第一电动推杆形成控制,从而进行自动化控制,方便装置的使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 图像 测量 zeta 电位 粒子 尺寸 仪器 | ||
【主权项】:
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