[发明专利]适用于X射线诊断的高时空分辨光学系统有效
| 申请号： | 202110690056.4 | 申请日： | 2021-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN113433142B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 刘祥明;刘永刚;徐涛;理玉龙;彭晓世;魏惠月;关赞洋;任宽;王峰 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01N21/84 |
| 代理公司： | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 | 代理人： | 蔡冬彦 |
| 地址： | 621900 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于X射线诊断的高时空分辨光学系统，探测光产生模块、X射线响应模块、成像模块和分幅记录模块。采用以上技术方案，以超连续光谱为探测光，探测光产生模块选择性输出探测光，再利用透射光栅进行空间分光，最后采用高性能CCD成像，利用光学方法实现了分幅，具有抗干扰能力强、时间和空间分辨高等优点；并且，记录的时间窗口可调，时间分辨率可调，空间分辨率高；同时，该系统结构极为紧凑，能够用于极小空间、极短时间尺度条件下X射线时空演化过程的测量，服务于高能量密度相关物理过程的研究；另外，该系统还可以作为主动测量设备，用于材料荧光性质测量、器件结构测量等。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 射线 诊断 时空 分辨 光学系统 | ||
【主权项】：
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