[发明专利]一种基于量子弱测量放大的晶体温度测量装置及方法在审
| 申请号： | 202110677575.7 | 申请日： | 2021-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN113203496A | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 朱洁;胡孟军;张永生 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于量子弱测量放大的晶体温度测量的装置及方法，将双折射晶体温度变化转变为相位变化，再通过极小相位放大从而实现对温度的测量。此方法结合光学干涉与量子弱测量，以简单的结构实现了高精度高分辨度的温度测量；与传统的测温方法相比，省去了复杂的电学架构。本发明在军事国防、工程工业等各种需高精度温度测量的领域均可广泛使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 量子 测量 放大 晶体 温度 装置 方法 | ||
【主权项】：
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