[发明专利]一种基于线阵CCD的亚像素边缘零件直径尺寸测量方法在审
| 申请号： | 202110675471.2 | 申请日： | 2021-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN113436156A | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 梅武军;袁国堂;蒋婷婷;龚哲 | 申请（专利权）人： | 浙江大学台州研究院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/60;G06T5/00;G06N3/04 |
| 代理公司： | 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人： | 董世博 |
| 地址： | 318000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于线阵CCD的亚像素边缘零件直径尺寸测量方法，具体包括如下步骤：1)线阵CCD数据处理步骤、2)数据拟合定位边缘点步骤、3)边缘粗定位步骤、4)尺寸初测定步骤、5)尺寸测定步骤；本发明提供设计合理、高精度测量的一种基于线阵CCD的亚像素边缘零件直径尺寸测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ccd 像素 边缘 零件 直径 尺寸 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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