[发明专利]反射结构及包含该结构的微粒测量装置及其检测方法在审

专利信息
申请号: 202110652394.9 申请日: 2021-06-11
公开(公告)号: CN113358533A 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 宋卓 申请(专利权)人: 宋卓
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 上海大邦律师事务所 31252 代理人: 李蓉
地址: 455004 河南省安阳*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及反射结构及包含该结构的微粒测量装置及其检测方法,其中所述反射结构包括镜体以及开设于所述镜体的孔,所述镜体具有反射面以用于反射散射光信号;所述孔用于透射出射直射光并且所述孔的中心与所述出射直射光的光轴同轴。本发明通过增加反射结构以用于将颗粒受照明光束所产生的直射光信号以及散射光信号分离,并且该直射光信号被疏导至远离流动室测量点的位置,使所述直射光被消除的同时可对散射光进行接收和检测,以避免采用遮光棒或掩模版所引起的杂散光问题,进一步提高了测量过程中的信噪比。
搜索关键词: 反射 结构 包含 微粒 测量 装置 及其 检测 方法
【主权项】:
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