[发明专利]半导体封装结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202110631929.4 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN113380782A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 林耀剑;刘硕;周莎莎;陈建;陈雪晴 申请(专利权)人: 江苏长电科技股份有限公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/31;H01L21/56;H01L23/488;H01L23/367;H01L23/00
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 沈晓敏
地址: 214430 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出了一种半导体封装结构,所述封装结构包括:主体基板,包括上表面电路、下表面电路以及将两者连接的侧面,上表面电路和下表面电路电性连通;芯片,具有相对的第一连接面和第二连接面,第一连接面电性连接于下表面电路;塑封层,完全包覆基板的侧面,且至少部分包覆下表面电路和芯片;背金层,包括与芯片的第二连接面相连接的至少一个第一金属连接部,第一金属连接部包括延伸并凸出塑封层外的延展面,延展面的面积之和大于第二连接面的面积。本发明在降低生产成本的同时解决了芯片的散热问题,并提高了封装结构的防潮能力。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
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