[发明专利]一种通过化学气相沉积制备晶圆级二维In2有效

专利信息
申请号: 202110620178.6 申请日: 2021-06-03
公开(公告)号: CN113445025B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 冯伟;许弋;杨绪轩 申请(专利权)人: 东北林业大学
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C18/12;H01L21/02
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 张金珠
地址: 150040 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种通过化学气相沉积制备晶圆级二维In2Se3薄膜的方法;属于晶圆级二维半导体材料薄膜制备领域。本发明要解决现有机械剥离法制备获得的二维In2Se3尺寸过小且难以控制,以及脉冲激光沉积制备成本过高、性能较差的技术问题。本发明的方法:一、配置硝酸铟溶液,过滤;二、量取步骤一所得溶液,高速旋涂于晶圆级尺寸的基底上,进行加热除杂后再受热分解,得到氧化铟薄膜,再对氧化铟薄膜进行高温退火处理;三、对氧化铟薄膜置于CVD炉中进行原位硒化处理,得到大尺寸二维In2Se3薄膜。本发明合成得到的二维In2Se3薄膜尺寸大、均匀度好、表面清洁,用于制作大面积、集成化电子和光电器件。
搜索关键词: 一种 通过 化学 沉积 制备 晶圆级 二维 in base sub
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