[发明专利]一种双工位IC测试分选机有效
| 申请号： | 202110619989.4 | 申请日： | 2021-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN113333310B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 谢国清;曹国光;曹皇东;罗奕真 | 申请（专利权）人： | 东莞市华越自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张建 |
| 地址： | 523000 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供的双工位I C测试分选机，在对I C芯片进行分选时，先通过引脚位置检测装置判断分度装置上夹取的两个I C芯片是否的引脚位置情况，当引脚位置检测装置判断两个I C芯片均引脚位置错位时，则通过转向电机驱动转向传动组件同时驱动两个转动台转动预设的角度，即转动台旋转180度令I C芯片旋转180度；当引脚位置检测装置判断其中一个I C芯片引脚位置错位时，则通过转向电机驱动转向传动组件同时驱动对应的转动台转动预设的角度，即转动台旋转180度令I C芯片旋转180度；至此，仅需要投入并控制一个转向电机便能实现对双I C芯片的转向，降低双工位I C测试分选机的控制成本与设备成本的同时实现了双I C芯片的分选，保证了分选效率，即兼顾了低成本与高效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 双工 ic 测试 分选 | ||
【主权项】：
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