[发明专利]基于改进的YOLO网络的晶圆表面缺陷检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202110616677.8 申请日: 2021-06-02
公开(公告)号: CN113222982A 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 杨明来;曹肖可;汤凯;晁阳;张雪玲;海伦;席泽鹏;陈威 申请(专利权)人: 上海应用技术大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/00;G06K9/62;G06N3/04
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200235 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种基于改进的YOLO网络的晶圆表面缺陷检测方法及系统,包括如下步骤:采集晶圆图像,对所述晶圆图像表面缺陷进行位置和缺陷类型的标注生成数据集,将所述数据集分为训练集和测试集;对训练集进行聚类分析,确定目标anchor值;改进YOLO网络模型中的主干特征提取网络Darknet‑53和多尺度特征融合网络FPN,生成优化后的YOLO目标检测模型;将聚类分析后的训练集输入到优化后的YOLO网络模型中进行训练生成晶圆表面缺陷模型,并通过所述测试集对所述晶圆表面缺陷模型进行测试。本发明提供能够用于实现晶圆成品表面缺陷的检测,检测的缺陷包括划痕、污染、残缺等等,通过对YOLO网络模型的改进,能够较以往传统的检测方法,准确性和实时性得到进一步提高。
搜索关键词: 基于 改进 yolo 网络 表面 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
暂无信息
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