[发明专利]用于提取集成电路器件的器件模型参数的方法和装置在审
| 申请号： | 202110614168.1 | 申请日： | 2021-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN113221489A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 刘志宏;梁汉成;石凯;马玉涛 | 申请（专利权）人： | 上海概伦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 毛健;顾云峰 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及一种用于提取集成电路器件的器件模型参数的方法，包括：提供针对所述集成电路器件的测试数据集；提供提取条件设置界面，所述提取条件设置界面包括多个提取条件域，其中每个提取条件域对应于一个测试条件；接收用户输入，所述用户输入用于对所述提取条件设置界面的多个提取条件域中的至少一个提取条件域进行设置或选择提取条件变量；至少基于所述用户输入设置或选择的提取条件变量生成一个提取条件模板，并且利用所述提取条件模板从所述测试数据集中筛选对应的测试数据以生成自定义测试数据集；以及用所述自定义测试数据集对所述集成电路器件的器件模型进行拟合，以生成所述集成电路器件的器件模型参数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 提取 集成电路 器件 模型 参数 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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