[发明专利]基于线结构光的厚度测量方法和系统在审
| 申请号： | 202110611414.8 | 申请日： | 2021-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN113048899A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 何文浩;郭跃;宋海涛;周小伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李文清 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于线结构光的厚度测量方法和系统，该方法获取线结构光照射的目标物体的目标图像；将目标图像输入至语义分割模型，得到语义分割模型输出的目标图像中的第一光条线段、第二光条线段和第三光条线段的概率图，第二光条线段位于第一光条线段与第三光条线段之间，第二光条线段位于目标图像中的目标物体表面；基于第一光条线段、第二光条线段和第三光条线段的概率图以及目标图像，确定目标物体的厚度，该方法能增加激光线在复杂背景图像中的显著性，通过对投射在复杂目标物体上的激光线的关键线段或点的提取，减少了与测量无关的激光线形态变化对最终结果的影响，使测量得到的目标物体的厚度更加准确，能够应用在纹理更加复杂的场景中。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 结构 厚度 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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