[发明专利]回归测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110609410.6 | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113391998A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 刘多嘉 | 申请（专利权）人： | 北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 赵翠萍;张颖玲 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种回归测试方法、装置、电子设备及存储介质。其中，方法包括：监测目标应用程序的代码内容的更新情况；监测到代码内容更新时，确定更新的目标代码片段；并从第一数据库中获取多个测试用例；所述第一数据库存储有用于对所述目标应用程序的代码进行测试的测试用例；利用所述目标代码片段，结合代码片段与测试用例之间的关联关系，确定目标测试用例；并基于所述目标代码片段的更新情况，利用所述目标测试用例更新获取的多个测试用例；利用更新后的多个测试用例，对所述目标应用程序的代码进行回归测试。 | ||
| 搜索关键词： | 回归 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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