[发明专利]MEMS压力传感器制造方法及MEMS压力传感器有效
申请号: | 202110590117.X | 申请日: | 2021-05-28 |
公开(公告)号: | CN113432777B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
发明(设计)人: | 朱恩成;陈磊;张强;闫文明 | 申请(专利权)人: | 歌尔微电子股份有限公司 |
主分类号: | G01L13/00 | 分类号: | G01L13/00;G01L19/00 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 王迎;袁文婷 |
地址: | 266000 山东省青岛市崂*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提供一种MEMS压力传感器制造方法及MEMS压力传感器,其中的MEMS压力传感器制造方法,包括对第一硅基体依次进行化学腐蚀和减薄处理,形成具有倾斜开孔的第一结构层;在第一结构层的最大开孔的一侧键合第二结构层,并对第二结构层进行减薄处理,形成敏感层;在敏感层上制作探测单元、焊盘以及覆盖敏感层、探测单元和焊盘的保护层;在第一结构层远离敏感层的一侧键合第二硅基体,并对第二硅基体依次进行干法刻蚀和减薄处理,形成具有规则开孔的第三结构层;在保护层上键合保护盖,保护敏感层结构,并最终形成MEMS压力传感器。利用上述发明能够利用单晶硅基底湿法腐蚀侧壁倾斜特性,通过开孔倒置键合方式扩大压力敏感膜的面积,并提高传感器整体结构强度和性能。 | ||
搜索关键词: | mems 压力传感器 制造 方法 | ||
【主权项】:
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