[发明专利]基于加权正负余量方差最小化算法的工件光学测量方法有效
申请号: | 202110573411.X | 申请日: | 2021-05-25 |
公开(公告)号: | CN113029049B | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 朱大虎;吕睿;王周君;华林 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30;G06F17/15;G06F17/16;G06F30/20 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 杨宏伟 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于加权正负余量方差最小化算法的工件光学测量方法,首先由光学扫描仪获得工件测量点云,并由三维软件获得带有法向量的CAD点云;之后由Kdtree搜索算法获得最近点对集合,并将测量点云划分为正负余量测点;定义正负余量测点的权重系数函数后,定义加权正负偏差距离,由加权正负偏差距离生成新的目标函数;对获得的对应点对集合应用目标函数求解转换矩阵,并将转换矩阵应用于测量点云转换;将转换后的测量点云与标准CAD点云比对并生成色谱图。本发明有效解决传统算法在测量点云存在负余量和异常余量(离群点、离群噪声等)情况下的匹配失真问题,适用于余量分布复杂且未知的工件测量,具有精度高、效率高及测量稳定等优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 加权 正负 余量 方差 最小化 算法 工件 光学 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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