[发明专利]一种多波段条状滤光片光学参数测试系统及其测试方法在审
申请号: | 202110572136.X | 申请日: | 2021-05-25 |
公开(公告)号: | CN113295387A | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 崔珊珊;裘桢炜;孟炳寰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 周静 |
地址: | 230031 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种多波段条状滤光片光学参数测试系统及其测试方法,该测试系统包括连续可调谐均匀单色照明光源组件、二维调整架、光学成像系统、探测器、图像采集处理系统、电源;二维调整架和相机组件均安装在暗箱内。本发明通过调节连续可调谐均匀单色照明光源组件,可以输出与测试通道光谱匹配的均匀窄带面光源,通过照射多波段条状滤光片,由光学成像系统和探测器对待测目标所有通道成像并输出;采用扣本底和非均匀性校正等预处理操作,消除测试系统自身低频扰动带来的测试误差;最终计算得到多波段条状滤光片透过率二维分布图像,完成通道内均匀性、通道间光谱串扰、透过率等参数的定标与校正,显著提高测试效率和测试精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 波段 条状 滤光 光学 参数 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110572136.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。