[发明专利]一种多波段条状滤光片光学参数测试系统及其测试方法在审

专利信息
申请号: 202110572136.X 申请日: 2021-05-25
公开(公告)号: CN113295387A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 崔珊珊;裘桢炜;孟炳寰 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 周静
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种多波段条状滤光片光学参数测试系统及其测试方法,该测试系统包括连续可调谐均匀单色照明光源组件、二维调整架、光学成像系统、探测器、图像采集处理系统、电源;二维调整架和相机组件均安装在暗箱内。本发明通过调节连续可调谐均匀单色照明光源组件,可以输出与测试通道光谱匹配的均匀窄带面光源,通过照射多波段条状滤光片,由光学成像系统和探测器对待测目标所有通道成像并输出;采用扣本底和非均匀性校正等预处理操作,消除测试系统自身低频扰动带来的测试误差;最终计算得到多波段条状滤光片透过率二维分布图像,完成通道内均匀性、通道间光谱串扰、透过率等参数的定标与校正,显著提高测试效率和测试精度。
搜索关键词: 一种 波段 条状 滤光 光学 参数 测试 系统 及其 方法
【主权项】:
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