[发明专利]一种金属摩擦层透射电子显微镜样品的制备方法有效

专利信息
申请号: 202110567966.3 申请日: 2021-05-24
公开(公告)号: CN113406120B 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 张卫文;李道喜;王智;罗宗强;杨超 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/20008;G01N23/20058;G01N23/2055;G01N1/28;G01N1/32;G01N1/36
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 何淑珍;江裕强
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种金属摩擦层透射电子显微镜样品的制备方法。该方法包括:从样品中切取金属薄片,打磨,得到打磨后的金属薄片;将打磨后的金属薄片镶嵌在金属管中,镶嵌处使用树脂黏贴,得到薄片试样;将薄片试样的正反两面分别打磨,得到打磨后的薄片试样,进行离子减薄处理至薄片试样出孔为止,得到离子减薄后的试样;将离子减薄后的试样进行离子抛光处理,得到所述金属摩擦层透射电子显微镜样品。本发明的制备方法工艺简单,使用制样的设备和技术成熟,有利于防止砂纸打磨过程中的摩擦层脱落和采用凹坑仪减薄过程中容易出现的样品碎裂,适合于具有微米级表面氧化层和严重塑性变形层等多层结构的金属摩擦层截面透射电子显微镜样品的制备。
搜索关键词: 一种 金属 摩擦 透射 电子显微镜 样品 制备 方法
【主权项】:
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