[发明专利]一种用于近场光学探测的介质探针及近场显微镜

摘要

本发明公开了一种用于近场光学探测的介质探针及近场显微镜。探针包括采用微米级光导介质制备的探针柱，所述探针柱的一端为半球形，在半球形的顶部设置金属纳米颗粒或金属纳米颗粒阵列。用微米级光纤作为光导介质，将一端制备为半球形作为探针基座，再将金属纳米颗粒制备到探针柱顶端作为局域增强电场的产生点“热点”，热点位置可以在纳米尺度的空间范围内产生极强的电场增强。光导介质可以作为入射激发光的有效光导，也可以作为散射和反射光的有效收集光导。得益于近场激发和收集的同时增强，由这种探针构建的近场显微镜，其光谱扫描的综合效率较远场收集的针尖增强拉曼光谱设备至少提高2个数量级。