[发明专利]一种空间目标纳米级精度成像定位方法在审
| 申请号： | 202110558214.0 | 申请日： | 2021-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113487740A | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 袁利;孟小迪;王立;郑然;武延鹏;王苗苗;程会艳;李玉明;齐静雅 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G06T17/20 | 分类号： | G06T17/20;G06T5/50;G06T5/00;G06T3/40;G06T7/90 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张晓飞 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种空间目标纳米级精度成像定位方法。主要包括：精细化psf模型和纳米级精度成像定位方法。首先利用探测器上亚像素分布不同的空间目标成像结果，建立高精度精细化PSF模型；基于高精度全视场精细化PSF模型，对需要探测的空间目标进行拟合，得到空间目标在探测器坐标系下的位置，可以达到纳米级定心精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空间 目标 纳米 精度 成像 定位 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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