[发明专利]一种Overhauser磁力仪磁测数据置信水平评价方法有效

专利信息
申请号: 202110549877.6 申请日: 2021-05-20
公开(公告)号: CN113341359B 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 董浩斌;郑利东;葛健;刘欢;罗望;王洪鹏;孟涛 申请(专利权)人: 中国地质大学(武汉)
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G06K9/00;G06F17/15
代理公司: 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 代理人: 孔灿
地址: 430000 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种Overhauser磁力仪磁测数据置信水平评价方法,包括建立不同类型噪声与FID信号特征间的映射关系,得到不同噪声对信号特征的影响,包括幅度变化、衰减速度等;以信号衰减快慢粗略表征信号质量高低,建立X评价体系;分析含噪信号的函数表达式,建立信号信噪比表达式,在此基础上建立Y评价体系;建立磁测误差表达式,分析不同条件下的磁测误差大小;在磁场波动变化和磁测误差变化的基础上建立Z评价体系;以X、Y、Z构成整体磁测数据置信水平评价方法,实现不同测量环境中磁测数据质量的实时准确评价,本评价方法不仅能够实现信号质量评价,且能够进一步实现磁测数据真实置信水平的评价。
搜索关键词: 一种 overhauser 磁力 仪磁测 数据 置信水平 评价 方法
【主权项】:
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