[发明专利]卫星发射场性能试验科目的选取方法、装置和电子设备有效
| 申请号： | 202110545245.2 | 申请日： | 2021-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN113221362B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 谌彤童;仝非;姚惠生;胡振鑫;向日华;王洪刚;张帆;刘建;黎海林;刘一帆 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军63921部队 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06Q10/06;G06F111/08;G06F119/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 徐丽 |
| 地址： | 100000*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种卫星发射场性能试验科目的选取方法、装置和电子设备，包括：获取卫星发射场的多个性能试验科目中每个性能试验科目的评估数据，该评估数据包括试验时间、重要性评分和风险概率；根据预设的约束关系和评估数据，从多个性能试验科目中确定目标科目，以使通过目标科目进行卫星发射场试验的试验周期最短。本发明可以在约束卫星发射任务风险概率、试验科目重要性的情况下，由电子设备自动从预先设置好的多个性能试验科目中选取出试验周期最短时的性能试验科目，从而可有效缩短试验周期，同时提高卫星发射场选取卫星性能试验科目的合理性，有助于卫星、运载火箭试验科目在发射场的规范化实施。 | ||
| 搜索关键词： | 卫星 发射场 性能 试验 科目 选取 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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