[发明专利]一种基于一维距离像特征的杂波图检测与更新方法有效
申请号: | 202110531988.4 | 申请日: | 2021-05-17 |
公开(公告)号: | CN113253231B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | 李玮璐;林玉新;何晓;尤立峰;徐逊 | 申请(专利权)人: | 成都西科微波通讯有限公司 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870 | 代理人: | 韦海英 |
地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了一种基于一维距离像特征的杂波图检测与更新方法,其包括以下步骤:S1、建立初始杂波图,获取一维距离像信息熵和中心矩特征;S2、获取杂波底参考数据;S3、获取超过检测门限的回波点;S4、获取当前扫描帧数据的一维距离像信息熵和中心矩特征;S5、存储临时杂波图,记录各角度下的一维距离像信息熵和中心矩特征;S6、判断是否进行杂波图更新;S7、将临时杂波图更新至初始杂波图中,完成基于一维距离像特征的杂波图更新。本方法可以自动分辨扫描场地中是否出现异常大目标,若判断当前场地出现异常大目标,则将该大目标进行上报并在该扫描周期中不进行杂波图更新,进而不会影响后续异物检测的结果,提高检测效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 距离 特征 杂波图 检测 更新 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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