[发明专利]针对任意形状有损耗介质充电电位数值模拟方法、系统、终端有效

专利信息
申请号: 202110497457.8 申请日: 2021-05-08
公开(公告)号: CN113221411B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 李静和 申请(专利权)人: 桂林理工大学
主分类号: G06F30/23 分类号: G06F30/23;G06T17/20;G06F111/10
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 蓝晓玉
地址: 541004 广西壮*** 国省代码: 广西;45
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于工程、水文及环境地球物理勘探技术领域,公开了一种针对任意形状有损耗介质充电电位数值模拟方法、系统、终端,包括任意形状有损耗介质区域剖分、充电电流强度系数求解及有损耗介质充电电位积分计算。采用单位体积网格剖分,将充电三维区域离散为多个单位体积网格;建立充电电流强度传输方程组,获取剖分单位在总充电电流强度条件下的充电电流强度系数;以剖分单位体积作为单元点源,计算所有剖分网格单位点源的充电电位三维积分,获取三维有损耗介质区域充电电位分布。本发明解决了传统任意形状有损耗介质充电电位缺乏数值模拟计算方法的难题,为基于复杂有损耗介质电源的工程、水文及环境地球物理勘探数值模拟、反演及解释提供了方法支撑。
搜索关键词: 针对 任意 形状 损耗 介质 充电 电位 数值 模拟 方法 系统 终端
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桂林理工大学,未经桂林理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110497457.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top