[发明专利]调理测试机构在审
| 申请号： | 202110488740.4 | 申请日： | 2021-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN113188717A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 王小平;曹万;唐文;齐擎;陈列;向忠明 | 申请（专利权）人： | 武汉飞恩微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01L25/00 | 分类号： | G01L25/00;G01L27/00;B23K26/362 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 高川 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开一种调理测试机构，调理测试机构包括机架、传送组件、调理组件、测试组件以及激光打标组件，机架具有沿自上游向下游的加工方向依次排布的多个工位，多个工位包括调理工位、测试工位以及打标工位，传送组件设于机架，传送组件用于将压力传感器沿加工方向依次传送至多个工位，调理组件设于机架且对应调理工位设置，调理组件用于对位于调理工位上的压力传感器进行调理，测试组件设于机架且对应测试工位设置，测试组件用于对位于测试工位上的压力传感器进行功能测试，激光打标组件设于机架且对应打标工位设置，激光打标组件用于对位于打标工位上的压力传感器进行激光打标。本发明提供的调理测试机构，大大提高了调理和测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 调理 测试 机构 | ||
【主权项】：
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