[发明专利]具有梁结构的压电MEMS硅谐振器及其形成方法、电子设备有效
申请号: | 202110477297.0 | 申请日: | 2021-04-29 |
公开(公告)号: | CN113381717B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 张孟伦;杨清瑞;宫少波 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H03H3/02 | 分类号: | H03H3/02;H03H9/02 |
代理公司: | 北京汉智嘉成知识产权代理有限公司 11682 | 代理人: | 姜劲;谷惠敏 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提出具有梁结构的压电MEMS硅谐振器及其形成方法,以及一种电子设备。该形成方法包括:提供带下空腔的SOI硅片作为衬底,下空腔的上方具有器件硅层;依次形成下电极、压电层和上电极;刻蚀器件硅层以形成梁结构;在当前半导体结构上形成牺牲层;在牺牲层之上生长封装材料以形成薄膜封装层,然后在薄膜封装层中的梁结构区域上方位置刻蚀通孔;去除梁结构的振动区上方的牺牲层以形成上空腔,并且保留梁结构的固定端上方的牺牲层;再次生长封装材料以封闭通孔;形成贯穿薄膜封装层以及被保留的牺牲层的电连接通孔;在电连接通孔中形成电极连接。该形成方法制得的压电MEMS硅谐振器可长期保持器件高真空度,实现谐振器高的品质因数以及长期稳定性。 | ||
搜索关键词: | 具有 结构 压电 mems 谐振器 及其 形成 方法 电子设备 | ||
【主权项】:
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