[发明专利]一种CPU半导体导电性能检测系统

摘要

本发明公开的一种CPU半导体导电性能检测系统，包括检测台，所述检测台左侧端面上固定连接有升降支架，所述升降支架上设有断针修复及导电性检测切换机构，所述断针修复及导电性检测切换机构上设有CPU针脚焊接机构，所述CPU针脚焊接机构上设有左右对称的焊接针脚磨圆机构，本发明的CPU针脚焊接机构在焊接前对电烙铁进行预热，在下移进行焊接之前切断电烙铁电源，并使电烙铁接地，从而避免电烙铁在焊接过程中存在静电，有效避免针脚焊接过程中静电对CPU造成二次损伤，断针修复及导电性检测切换机构能自动检测CPU上断针位置，CPU针脚焊接机构能自动将铜丝焊接在CPU上。