[发明专利]γ射线辐照后CCD饱和信号的原位测量系统及方法有效
| 申请号： | 202110456924.2 | 申请日： | 2021-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN113203931B | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 王祖军;焦仟丽;薛院院;贾同轩;马武英;何宝平;刘敏波;盛江坤 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学;西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 郑丽红 |
| 地址： | 411105 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： |
本发明提供一种γ射线辐照后CCD饱和信号的原位测量系统及方法，该系统和方法能够有效降低现有测量系统在开展γ射线辐照实验时测试的繁琐度和实验人员的危险性，提高实验效率；同时，该系统和方法能获取辐照完成后短时间内的饱和信号参数，为研究CCD的 |
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| 搜索关键词： | 射线 辐照 ccd 饱和 信号 原位 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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